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XL2 Plus手持XRF分析仪

简要描述:

手持XRF分析仪是一种XRF光谱分析技术,可用于确认物质里的特定元素,同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长(λ)及能量(E)确定具体元素,而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。

产品型号:

厂商性质:代理商

更新时间:2022-06-14

浏览次数:2308

详细介绍
品牌Thermofisher Scientific/赛默飞世尔应用领域医疗卫生,化工,地矿,能源
   手持XRF分析仪是一种XRF光谱分析技术,可用于确认物质里的特定元素,同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长(λ)及能量(E)确定具体元素,而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来,XRF技术就能测定物质的元素构成。它可以使用低功率X射线管分析合金元素。发射的x射线和返回的x射线都是低功率的,测量时使手持式合金分析仪接近样品。理想的是使样品进行直接通过接触手持式合金分析仪的测量窗。如果样品具有复杂的几何形状,则难以检查,但手主体较窄,可以尽量接近斜面样品。
  操作方案包括:(1)x射线发射;(2)x射线返回探测器;以及作为表面检查技术的手持式合金分析仪。在一些轻合金中,例如铝合金、XRF技术发展企业管理只能通过进行研究检查数据分析样品表面具有以下的数百微米的深度。一些主要的金属,如铁、铜或x射线荧光,在不超过100米的深度就能被探测到。对于金和铅等稠密材料,只有样品表面可以在几十微米的深度进行检查和分析。这意味着,当使用x光荧光技术进行检查时,如果材料的表面没有正确地代表整个材料的组成,则不能获得可靠的检查数据。表面环境污染,例如油漆、保护层、镀层,分析问题研究调查结果就是我们可能会导致出现大大歪曲。同样,喷砂、喷砂、研磨和污垢处理后留在表面的物质也会影响物质成分鉴别的结果。因此,在使用XRF技术企业进行检查结果分析样品可以通过自己之前,请务必清洁样品。
   1、从辐射安全角度分析XL2 Plus手持XRF分析仪:
  1.1辐射安全常识
  在设计上,当NITON XRF分析仪快门关闭时,没有发出任何辐射。对于一个给定的辐射源,三个因素决定了人体所接受的辐射剂量:
  1.受照射时间
  受照射的时间越长,人体所接受的辐射剂量也就越大。辐射量与受照射时间成正比。
  2.与辐射源的距离
  离辐射源越近,所受的辐射剂量就越大。所接受的辐射剂量与辐射源的距离的平方成反比。例如,距离辐射源1英尺所接受到的辐射量是距离辐射源3英尺所接受到的辐射量的9倍。因此,当仪器快门打开时,应保证手和身体的各个部位远离仪器的前端,以使所受的辐射量减至较小。
  3.辐射屏蔽
  屏敲指的是任何介于操作者和辐射源之间的材料。屏被材料越多,材质越密,所受到的辐射就越少。可选购测试架作为测试样品过程中一种附加的屏蔽装置,反向散射屏蔽附件也十分有效,对于某些应用特别适合。
  1.2辐射束分布
  设计NITON XRF分析仪时,要考虑到使用安全。尽管如此,我们在使用仪器时依然要注意安全,这样才能保证操作者和其周围人员的人身安全。主辐射束是仪器前端测量窗口发出的定向辐射束,该辐射束含有很高的强度。次辐射束,或叫离散辐射束,其强度较主辐射束大大降低。
 

 

  X射线管打开后,仪器上面的4个警告灯会不停的闪烁。
  警告:要对X射线给予足够的重视。在测量过程中,手的位置不要靠近测试窗口。当仪器快门打开后,不能将仪器指向自己或任何人。不能顺着主辐射束的路径观察测试窗口。
  1.3安全测试样品
  测量小样品
  小样品是指那些尺寸比测量窗口小的样品。测量小样品有一定的危险性,因为它们体积小,不能阻挡所有的射线。若将小的样品放到一个工作界面上测试,分析仪可能会接收到有关工作界面的一些数据,从而对测试结果造成影响。测试架是安全准确地分析小样品的有效工具。
  测量形状不规则的样品
  测量形状不规则的样品时,可能无法压住仪器前端的接触按钮,或者因为样品不能完全盖住主辐射束而造成额外散射。使用反向散射屏蔽装置是分析不规则样品时减少辐射泄露的安全方式。

 


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