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X射线荧光光谱仪(XRF)

简要描述:

X射线荧光光谱仪(XRF)是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。

产品型号:XL2 500、XL2 950

厂商性质:代理商

更新时间:2022-12-14

浏览次数:515

详细介绍
行业专用类型地质岩矿价格区间30万-50万
仪器种类手持式/便携式应用领域化工,石油,地矿,能源
  X射线荧光光谱仪(XRF)是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。
 
  X射线是一种电磁辐射,其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限,一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。X射线是用高速电子轰击原子的内层电子,使之处于高激发状态,同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道。在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大,波长小,肉眼不可见,称之为X射线。
 
  如果用高速电子激发产生的X射线又作为激发源(可称之为一次X射线)去轰击别的原子的内层电子,同样可产生X射线,只是这种X射线的能量较一次X射线低,波长也较长,这种射线称为二次X射线或X射线荧光、荧光X射线。X射线荧光的波长是以受激物质(待测物质)的原子序数为特征的,原子序数越大的物质波长越短。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长,这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据;而元素受激发射出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量,这是定量分析的依据。
 

X射线荧光光谱仪(XRF)

 

  基本原理如下:
 
  X射线荧光光谱仪(XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。
 
  a) X射线用于元素分析,是一种新的分析技术,但在经过二十多年的探索以后,现在已成熟,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。
 
  b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外,还与这种元素在样品中的含量有关。
 
  c) 根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。
 
  波长色散型和能量型谱仪原理图:
 
X射线荧光光谱仪(XRF)

 


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