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| 行业专用类型 | 地质岩矿 | 价格区间 | 30万-50万 |
|---|---|---|---|
| 仪器种类 | 手持式/便携式 | 应用领域 | 化工,石油,地矿,能源 |
X射线荧光光谱仪(XRF)是一种用于测量物质中元素含量的仪器。它通过激发样品中的原子，使其发射X射线，然后检测X射线的能量和数量，从而确定样品中各元素的含量。本仪器可以测量几乎所有元素，包括金属、非金属和有机物质。它可以用于分析各种样品，如矿石、矿物、岩石、土壤、植物、食品、药物、建筑材料、污染物等。优点是快速、准确、灵敏度高，可以在短时间内测量大量样品，而且可以在现场进行测量，不需要进行样品前处理。
X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。
X射线的产生：
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的K射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。
连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受到靶原子核的库仑力作用，突然改变速度而产生的电磁辐射(如右图)。由于在撞击时，有的带电粒子在一次碰撞中损失全部能量，有的带电粒子同靶发生多次碰撞逐步损失其能量，直到丧失为止，因而产生的波长是具有连续分布的电磁波。因此，它也称为韧致辐射、白色X射线或多色X射线。
特征谱线的产生则是基于不同的机理：
a)入射X射线轰击原子的内层电子，如果能量大于它的吸收边，该内层电子被驱逐出整个原子(整个原子处于高能态，即激发态)。
b)较高能级的电子跃迁，补充空穴，整个原子回到低能态，即基态。
c)由高能态转化为低能态，释放能量。△E=Eh-E1
d)能量如果以X射线的形式释放，则会产生X射线荧光。(如下图)
产生过程：内层电子被激发，原子不稳定(激发态)，外层电子跃迁到内层空穴，跃迁过程产生能量差，能量差以X射线的形式释放。
特征谱线：每一个轨道上的电子能量是一定的，因此电子跃迁产生的能量差是一定的，释放的X射线的能量也是一定的，而这个特定的能量与元素种类有关，即每个元素都有其特征谱线。
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。
X射线荧光光谱仪(XRF)具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。
常见问题：
1. 为什么要求XRF测试粉末样品用量达到3 g以上较好？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
2. 为什么XRF测试要求薄膜(块体)样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜(块体)样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
3. XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。